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EPK德國(guó)進(jìn)口MIKROTEST測(cè)厚儀影響精度因素
- 更新時(shí)間:2017-07-04
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EPK德國(guó)進(jìn)口MIKROTEST測(cè)厚儀影響精度因素由于測(cè)厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后,在使用中不能再變動(dòng)。所以,在實(shí)際使用中,可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測(cè)量精度的因素必須加以考慮,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有:a.鋼鐵基體的磁特性及光澤b.基體金屬厚度:c.邊緣效應(yīng)d.曲率e.覆蓋層的厚度f.剩磁g.磁場(chǎng)h.地球重力
品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK |
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EPK德國(guó)進(jìn)口MIKROTEST測(cè)厚儀影響精度因素
由于測(cè)厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后,在使用中不能再變動(dòng)。所以,在實(shí)際使用中,可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測(cè)量精度的因素必須加以考慮,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有:
- a.鋼鐵基體的磁特性及光澤
- b.基體金屬厚度:
該儀器有一個(gè)基體zui小臨界厚度值。型號(hào)不同、則這個(gè)厚度值不同。請(qǐng)參考技術(shù)說明指標(biāo)。若厚度超過這一zui小臨界厚度值,測(cè)量值不受影響。反之,則造成讀值偏高。
- c.邊緣效應(yīng)
該測(cè)量方法對(duì)被測(cè)體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此,在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。所以,技術(shù)說明指標(biāo)指出了zui小測(cè)量面積。一定要測(cè)量則必須經(jīng)過校對(duì)驗(yàn)證。
- d.曲率
被測(cè)件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,一般凸面可以造成測(cè)值偏大,凹面則偏小。盡管儀器設(shè)計(jì)對(duì)這方面有所補(bǔ)償。
- e.覆蓋層的厚度
測(cè)厚精度隨覆層厚度變化面變化。對(duì)于薄的覆層,其測(cè)量精度是一個(gè)常數(shù),與覆層厚度無關(guān);對(duì)于厚度的覆層,其精度與覆層厚度近似成正比。
- f.剩磁
基體金屬的剩磁對(duì) Mikrotest 測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果會(huì)有影響。
- g.磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重干擾儀器工作。
- h.地球重力
Mikrotest 測(cè)厚儀測(cè)量讀數(shù)受測(cè)頭相對(duì)于地球重力方向影響。
EPK德國(guó)進(jìn)口MIKROTEST測(cè)厚儀影響精度因素:
修定
了解了以上幾項(xiàng)可能影響測(cè)量精度的因素,應(yīng)通過試測(cè)方法找到一個(gè)修正值
比較實(shí)用的方法如下:
在有以上情祝的沒有涂鍍層的被測(cè)件表面上先測(cè)幾次,找到一個(gè)平均初始值,然后在同樣條件的涂鍍層表面測(cè)取讀數(shù)后,減去這個(gè)初始值。
對(duì)于b項(xiàng)所列情況,還可以采取在基材下面緊貼一塊鐵板的方法來解決。
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MIKROTEST涂層測(cè)厚儀、測(cè)量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度(如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳)。測(cè)量快速、、無損,三十多年來MICROTEST 已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的儀器。德國(guó)的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面,具有磁性涂層測(cè)厚儀的zui高水準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù):